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ISP CO

Firma Coreana con sede en Jeollabuk-Do especializada en el diseño y fabricación de Espectrómetros de Fluorescencia de Rayos X (EDXRF) para análisis espesores en galvanoplastia y plating.



i-EDX 100A

i-EDX 100A


Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por Energía Dispersiva (EDXRF) especialmente diseñado para cumplir la Directiva RoHs/WEEE/ELV 2001 que establece los límites máximos de concentración para Pb, Br, Cd, Cr y Hg en equipos electrónicos, automotrices, línea blanca, etc. así como para análisis general. Integra automuestreador de 10 ó 12 posiciones con el Tubo de Rayos X al alto vacío poderoso rodeado por tambores de filtros y 2 sistemas de detección a escoger con filtros secundarios tipo Hull y Ross. Permite analizar tanto sólidos como líquidos en el rango de Al(13) a U (92) de la tabla periódica permitiendo análisis de micropunto (1 a 5 mm) en superficie con gran exactitud y versatilidad gracias a su cámara integrada de la más alta resolución y de magnificación 40-80X.

i-EDX 150T

i-EDX 150T


Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por Energía Dispersiva (EDXRF) para análisis de espesores especialmente construido tanto para medir espesores multicapa (hasta 3 capas consecutivas) como para hacer análisis elemental de metales en mezclas o pastas para Electrodeposición, Platinado y Galvanoplastia. Presenta Tubo de Rayos X al alto vacío poderoso rodeado por tambores de filtros y 2 sistemas de detección a escoger con filtros secundarios tipo Hull y Ross. Permite analizar sólidos en el rango de Ti(22) a U (92) de la tabla periódica permitiendo análisis de micropunto (0.3 a 1 mm) en superficie con gran exactitud y versatilidad gracias a su cámara integrada de la más alta resolución y de magnificación 40-80X. Optica capilar de 50 µm.

i-EDX 150µT

i-EDX 150µT


Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por Energía Dispersiva (EDXRF) de Alto Desempeño para análisis de espesores especialmente construido tanto para medir espesores multicapa (hasta 5 capas consecutivas) como para hacer análisis elemental de metales en mezclas o pastas para Electrodeposición, Platinado y Galvanoplastia. Presenta Tubo de Rayos X al alto vacío poderoso rodeado por tambores de filtros y Sistema de detección FSDD con filtros secundarios tipo Hull y Ross de la más alta resolución del mercado. Permite analizar sólidos en el rango de Ti(22) a U (92) de la tabla periódica permitiendo análisis de micropunto (hasta 70 µm) en superficie con gran exactitud y versatilidad gracias a su cámara integrada de la más alta resolución y de magnificación 40-80X. Optica Policapilar de 15 y 30 µm. Permite analizar muestras grandes de hasta 600 X 450 mm.

i-EDX 150WT

i-EDX 150WT


Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por Energía Dispersiva (EDXRF) para análisis de espesores especialmente construido PARA TARJETAS ELECTRONICAS GRANDES (PCB) tanto para medir espesores multicapa (hasta 5 capas consecutivas) como para hacer análisis elemental de metales en mezclas o pastas para Electrodeposición, Platinado y Galvanoplastia. Presenta Tubo de Rayos X al alto vacío poderoso rodeado por tambores de filtros y 2 Sistemas de detección a escoger con filtros secundarios. Permite analizar sólidos en el rango de Ti(22) a U (92) de la tabla periódica permitiendo análisis de micropunto (0.05 a 1 mm) en superficie con gran exactitud y versatilidad gracias a su cámara integrada de la más alta resolución y de magnificación 40-80X. Optica Policapilar de 50 µm. Permite analizar muestras grandes/anchas hasta 520 X 520 mm.

i-EDX 750T

i-EDX 750T


Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por Energía Dispersiva (EDXRF) para análisis de espesores EN LINEA construido tanto para medir espesores multicapa (hasta 5 capas consecutivas) como para hacer análisis elemental de metales en mezclas o pastas para Electrodeposición, Platinado y Galvanoplastia. Presenta Tubo de Rayos X al alto vacío poderoso rodeado por tambores de filtros y Sistemas de detección FSDD con filtros secundarios. Permite analizar sólidos en el rango de Ti(22) a U (92) de la tabla periódica permitiendo análisis de micropunto (0.5 a 1 mm) en superficie con gran exactitud y versatilidad gracias a su cámara integrada de la más alta resolución y de magnificación 40-80X. Optica Policapilar de 15 y 30 µm. Permite analizar muestras EN LINEA. Permite analizar muestras grandes/anchas hasta 810 X 610 mm.

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