ATG Instrumentación

MATRIZ MONTERREY. Oficinas nacionales en: CDMX, Guadalajara, Tijuana - BCN - BCS (SIEM), Chihuahua (MIESA)
Panamá - Centro America (Proton-Med Inc.), Peru - Ecuador- Bolivia (MQ Instrumental Solutions)
COBERTURA INTERNACIONAL: MEXICO, CENTRO Y SUDAMERICA ANDINA.

ISP CO

Firma Coreana con sede en Jeollabuk-Do especializada en el diseño y fabricación de Espectrómetros de Fluorescencia de Rayos X (EDXRF) para análisis espesores en galvanoplastia y plating.



i-EDX 150T

i-EDX 150T


Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por Energía Dispersiva (EDXRF) para análisis de espesores especialmente construido tanto para medir espesores multicapa (hasta 3 capas consecutivas) como para hacer análisis elemental de metales en mezclas o pastas para Electrodeposición, Platinado y Galvanoplastia. Presenta Tubo de Rayos X al alto vacío poderoso rodeado por tambores de filtros y 2 sistemas de detección a escoger con filtros secundarios tipo Hull y Ross. Permite analizar sólidos en el rango de Ti(22) a U (92) de la tabla periódica permitiendo análisis de micropunto (0.3 a 1 mm) en superficie con gran exactitud y versatilidad gracias a su cámara integrada de la más alta resolución y de magnificación 40-80X. Optica capilar de 50 µm.

i-EDX 150µT

i-EDX 150µT


Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por Energía Dispersiva (EDXRF) de Alto Desempeño para análisis de espesores especialmente construido tanto para medir espesores multicapa (hasta 5 capas consecutivas) como para hacer análisis elemental de metales en mezclas o pastas para Electrodeposición, Platinado y Galvanoplastia. Presenta Tubo de Rayos X al alto vacío poderoso rodeado por tambores de filtros y Sistema de detección FSDD con filtros secundarios tipo Hull y Ross de la más alta resolución del mercado. Permite analizar sólidos en el rango de Ti(22) a U (92) de la tabla periódica permitiendo análisis de micropunto (hasta 70 µm) en superficie con gran exactitud y versatilidad gracias a su cámara integrada de la más alta resolución y de magnificación 40-80X. Optica Policapilar de 15 y 30 µm. Permite analizar muestras grandes de hasta 600 X 450 mm.

i-EDX 150WT

i-EDX 150WT


Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por Energía Dispersiva (EDXRF) para análisis de espesores especialmente construido PARA TARJETAS ELECTRONICAS GRANDES (PCB) tanto para medir espesores multicapa (hasta 5 capas consecutivas) como para hacer análisis elemental de metales en mezclas o pastas para Electrodeposición, Platinado y Galvanoplastia. Presenta Tubo de Rayos X al alto vacío poderoso rodeado por tambores de filtros y 2 Sistemas de detección a escoger con filtros secundarios. Permite analizar sólidos en el rango de Ti(22) a U (92) de la tabla periódica permitiendo análisis de micropunto (0.05 a 1 mm) en superficie con gran exactitud y versatilidad gracias a su cámara integrada de la más alta resolución y de magnificación 40-80X. Optica Policapilar de 50 µm. Permite analizar muestras grandes/anchas hasta 520 X 520 mm.

i-EDX 750T

i-EDX 750T


Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por Energía Dispersiva (EDXRF) para análisis de espesores EN LINEA construido tanto para medir espesores multicapa (hasta 5 capas consecutivas) como para hacer análisis elemental de metales en mezclas o pastas para Electrodeposición, Platinado y Galvanoplastia. Presenta Tubo de Rayos X al alto vacío poderoso rodeado por tambores de filtros y Sistemas de detección FSDD con filtros secundarios. Permite analizar sólidos en el rango de Ti(22) a U (92) de la tabla periódica permitiendo análisis de micropunto (0.5 a 1 mm) en superficie con gran exactitud y versatilidad gracias a su cámara integrada de la más alta resolución y de magnificación 40-80X. Optica Policapilar de 15 y 30 µm. Permite analizar muestras EN LINEA. Permite analizar muestras grandes/anchas hasta 810 X 610 mm.

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