ATG Instrumentación

MATRIZ MONTERREY. Oficinas nacionales en: CDMX, Guadalajara, Chihuahua (MIESA)
Peru - Ecuador - Bolivia (MQ Instrumental Solutions), Chile (Interlab) y Uruguay (Fablet & Bertoni)
COBERTURA INTERNACIONAL: MEXICO, CENTRO Y SUDAMERICA.

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COXEM

Empresa coreana líder tecnológica, premiada por diseño y confiabilidad instrumental, dedicada a la fabricación de Microscopios Electrónicos de Barrido MEB tanto de sobremesa como de piso para análisis de materiales diversos, ofreciendo equipos de detección dual por electrones retrodispersados y electrones secundarios



EM30 T


EM30T


Microscopio electrónico de barrido MEB de sobremesa, que permite sistema para aplicaciones básicas, permitiendo aumento de hasta 100,000x con voltaje de aceleración programable hasta 20 KeV, lo que le otorga gran potencia en la generación de imágenes. Detector de electrones secundarios. Funciones automáticas de enfoque, revisión de status del filamento y brillo/contraste. Aún siendo un sistema básico, puede expandirse a futuro para integrar detector de EDS para análisis químico. Peso de apenas 85 Kgs. Plataforma motorizada de cámara grande con capacidad rotatoria. Una inversión baja para contar con un buen sistema con presupuestos limitados.

EM30 N

EM30N


Microscopio electrónico de barrido MEB de sobremesa, que permite aplicaciones más avanzadas y de mayor robustez, permitiendo aumento de hasta 150,000x con voltaje de aceleración programable hasta 30 KeV, lo que le otorga gran potencia en la generación de imágenes. Sistema dual que integra tanto un Detector Secundario SE como un Detector para Retrodispersados. Funciones automáticas de enfoque, revisión de status del filamento y brillo/contraste. Puede expandirse a futuro para integrar detector de EDS para análisis químico. Peso de apenas 85 Kgs. Plataforma motorizada de cámara grande con capacidad rotatoria. Una inversión apropiada e inteligente de costo manejable.

EM30AX N

EM30AXN


Microscopio electrónico de barrido MEB de sobremesa, que permite aplicaciones más avanzadas y de mayor robustez, permitiendo aumento de hasta 150,000x con voltaje de aceleración programable hasta 30 KeV, lo que le otorga gran potencia en la generación de imágenes. Tanto para rugosidad como para topografía y estudios de porosidad y grietas. Sistema dual que integra tanto un Detector Secundario SE como un Detector para Retrodispersados. Integra detector de Energía Dispersiva EDS lo que lo dota de la capacidad de análisis químico con gran precisión y exactitud. Permite análisis tanto puntual como de superficie. Funciones automáticas de enfoque, revisión de status del filamento y brillo/contraste. Peso 95 Kgs. Plataforma motorizada de cámara grande con capacidad rotatoria. Una inversión elegante con la mejor Relación Costo/Beneficio del mercado. PERMITE INTEGRAR FUENTES DE DISPARO DE ELECTRONES TANTO DE TUNGSTENO (W) COMO CeB6 (Hexaboruro de Cerio DE ALTO BRILLO)

CX-200P

CX-200P


Microscopio electrónico de barrido MEB montado en piso, que permite aplicaciones muy avanzadas y de gran robustez, de aumento de hasta 300,000x con voltaje de aceleración programable hasta 30 KeV. La generación de imágenes es de gran nitidez gracias a la gran resolución de pixel. Resolución de 3.0 nm (a 30 KeV SE). Sistema dual que integra tanto un Detector Secundario SE como un Detector para Retrodispersados. Da la posibilidad de acoplar un detector de Energía Dispersiva EDS para análisis químico con gran precisión y exactitud. Permite análisis tanto puntual como de superficie. Funciones automáticas completas. Peso 155 Kgs. Plataforma motorizada automática de HASTA 5 EJES de cámara grande con capacidad rotatoria, permitiendo mover la muestra a cualquier plano según se desee. Una inversión balanceada entre Precio y Valor que brinda grandísima capacidad de análisis y generación de imágenes.

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